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纸张薄膜测厚仪(FTT-01)
纸张薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
更新:2023-06-13
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CH-1-S型薄膜测厚仪(CH-1-S)
一、产品简介本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。二、技术指标量程：0-1mm分 度 值：0.001mm上测头曲率半径：15-50mm测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N测量精度：100vm以内＜1vm100-250vm＜2vm250vm＜3vm
更新:2018-06-05
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BMH-J3数显薄膜测厚仪(BMH-J3)
一、产品简介BMH-J3数显薄膜测厚仪：本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。 尤其适用于薄膜 ,是实验室常用的检测工具。二、技术指标本品测量范围：（0-25）mm分 辨 率：0.001mm测厚仪工作温度： 0℃～+40℃储运温度：-20℃～+70℃环境相对湿度： ≤80%
更新:2018-06-05
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[新品] 薄膜测厚仪_薄膜厚度测试仪(CHY-C2)
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。
更新:2017-11-02
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高精度薄膜测厚仪(CHY)
高精度薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。高精度薄膜测厚仪结构组成高精度薄膜测厚仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输...
更新:2014-07-25
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[代理] AND-001薄膜测厚仪(AND-001)
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
更新:2013-06-15
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[促销] 手持式测厚仪(BMH-J3型)
√技术参数1．测量范围：（0-25）mm2．分辨率：0.001mm 3．电源：氧化银电池SR44 4．工作温度：0℃～+40℃5．储运温度：-20～+70℃6．相对湿度：≤80%√关键词便携式测厚仪、数显测厚仪、手持式测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、测厚规
更新:2010-12-15
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[促销] 台式测厚仪(CHY-5)
√技术指标1．测量范围：0-5㎜2．分度值：0.001㎜3．测量精度：＜0.005㎜4．测量压力：20±0.5Kpa 5．测量面积：10±0.2cm²6．测量面间平行度：＜0.035㎜√配 置标准配置：主机、测量头选用配置：测量头√关键词GB/T451.3、GB/T6547、台式测厚仪、机械式测厚仪、片材测厚仪、纸张测厚仪、纸板测厚仪、薄...
更新:2010-12-15
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薄膜测厚仪
主要用途及特点：本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。 技术参数：测量范围：0-1┨ 分度值：0.001┨ 上测头曲率半径：15～50┨ 测头对试样施加负荷：0.1～0.5N
更新:2009-09-24
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BMH-J3数显薄膜测厚仪
数显薄膜测厚仪用途：数显薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片及纸张的厚度；测量范围：（0-25）mm,分辨率：0.001mm. 数显薄膜测厚仪技术参数：测量范围：（0-25）mm分辨率： 0.001mm电源： 氧化银电池SR44工作温度： 0℃～+40℃储运温度： -20～+70℃相对湿度： ≤80% 主要功能： 数据输出 ...
更新:2008-07-15
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