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[新品] 薄膜测厚仪_薄膜厚度测试仪(CHY-C2)
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。
更新:2017-11-02
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[新品] 吉泰超声波测厚仪JT200(JT200)
JT200仪器是智能型超声波测厚仪,采用***新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,
更新:2016-07-14
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测厚仪(DC-1000C)
测量范围:用于测量硬质材质的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属;
更新:2024-05-31
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CH-1a+型感应式玻璃瓶测厚仪(CH-1a+型)
CH-1a+型玻璃瓶测厚仪是采用一种新型的磁性测量原理:在被测的玻璃瓶罐内放入一粒钢珠,当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量探头时,测量头上磁场的引力就把钢珠吸在瓶罐的内壁上。这时钢珠与测量头之间的距离就是被测的厚度,该厚度与该磁场的作用强度成反比关系,通过内部单片机系统测量该磁场强...
更新:2025-02-05
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[新品] 船舶测厚仪,钢管测厚仪(UM6700)
UM6700超声波测厚仪是采用国内外先进技术,研制的一种低功耗低下限袖珍式的测量仪器,可以测量多种超声波良导体的材料。应用:此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量,可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。广泛应用于石油、化工、电站、冶金...
更新:2022-02-28
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[促销] X光镀层测厚仪(XRF-2000)
X光镀层测厚仪,电镀膜厚仪、X射线镀层测厚仪、膜厚测量仪、无损金属镀层测厚仪,镀层厚度测量仪,金属镀层测厚仪,电镀层测厚仪,镀膜测厚仪
更新:2025-03-19
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[促销] 易高456涂层测厚仪(Elcometer456C)
新版Elcometer 456 C型系列涂层测厚仪屏显变大,读数直观,校准简单,测量更迅速。同时Elcometer 456 C型系列带有Bluetooth 蓝牙无线传输技术,可将数据迅速传输到新软件ElcoMaster 中,非常适合生成简易报告和给读数存档。Bluetooth
更新:2022-11-02
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涂层测厚仪(LCT-2000系列涂层测厚仪)
LCT-2000系列涂层测厚仪是采用磁性测厚法,方便、无损地测量铁磁性材料 上非磁性材料的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃 钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。 该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷涂、搪瓷等行业。
更新:2019-01-12
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[新品] 测厚仪型号 厂家 品牌(AD-3253/3253)
为轻质材料设计,高达0.1毫米准确性,厚度范围0.8-100毫米(AD3253为2-200毫米)的低成本高科技产品,A&D的超声波测厚仪使用超声波可测量从金属到塑料的各式各样固体物体的厚度.
更新:2018-06-01
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正品BOTE(博特)RCL-860双探头涂层测厚仪
正品BOTE(博特)RCL-860双探头涂层测厚仪带打印机磁性+非磁性二合一测厚仪 采用磁性和电涡流两种测量方法 ,配置双探头带打印机,并可以连接电脑或者PC机。 正品BOTE(博特)RCL-860双探头涂层测厚仪带打印机磁性+非磁性二合一测厚仪自动校对零点,可以系统误差进行修正; 可设置上下限界超差报警...
更新:2018-03-22
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[促销] 超声波测厚仪(HD)
LC系列超声波测厚仪是运用单片机技术研制的一种低功耗、低下限、袖珍式智能仪器。该机灵敏度高,稳定性好,工作可靠,操作简便。广泛用于石油、机械、船舶等行业检测管道、锅炉和压力容器的壁厚。是设备安全运行的保障。还配有小管径探头(φ6、φ8),高、中温及铸铁探头以供选择。
更新:2020-09-09
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玻璃瓶测厚仪 三泉中石品牌(CHY-B)
玻璃瓶测厚仪CHY-B可检测各种瓶容器的瓶底,瓶壁以及瓶口边厚的测量,应用于玻璃瓶生产企业,安瓿瓶生产企业,制药企业,检验检疫,药检机构等企业或单位.
更新:2016-05-14
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精密型锡膏测厚仪(SH-110II)
测量原理:非接触式,激光线 测量精度:±0.002mm重复测量精度:±0.004mm 基座尺寸:324mmX320mm移动平台:X,Y电磁锁闭平台,附微调把手移动平台尺寸:320mmX320mm 移动平台行程:230mmX200mm影像系统:高清彩色CCD摄像头 光学放大倍率:25-110X (5档可调)测量光线:可低至5µm高精度激光束电源:95...
更新:2024-04-01
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[新品] SLG-500锡膏测厚仪(SLG-500)
非接触式激光测厚仪是由专用激光器产生线型光束,以一定的倾角投射到待测量目标(锡膏)上,因为待测目标与周围基板存在高度差,此时观测到的目标和基板上的激光束相应出现断续落差,如图1-1 所示。根据三角函数关系可以通过该落差间距计算出待测目标截面与周围基板的高度差,从而实现非接触式的快...
更新:2014-06-12
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